Notice: Undefined index: linkPowrot in C:\wwwroot\wwwroot\publikacje\publikacje.php on line 1275
[20462] Artykuł: Systemy ATPG - stan obecny i perspektywy rozwoju(Automatic test pattern generation systems: overview)Czasopismo: Zeszyty Naukowe Politechniki Świętokrzyskiej. Elektryka Zeszyt: 43, Strony: 231-236 ISSN: 0239-4960 Opublikowano: 2005 Autorzy / Redaktorzy / Twórcy
Grupa MNiSW: Publikacja w recenzowanym czasopiśmie wymienionym w wykazie ministra MNiSzW (część B) Punkty MNiSW: 3 YADDA/CEON Słowa kluczowe: systemy ATPG  synteza układów cyfrowych  Keywords: Automatic Test Pattern Generation  synthesis of digital system  |
Wraz z rozwojem technologii syntezy układów cyfrowych wzrosło zapotrzebowanie na skuteczne i szybkie systemy ATPG (Automatic Test Pattern Generation). Na wczesnych etapach projektowania niezbędne są systemy ATPG dostosowane do poziomu wirtualnego prototypu układu, specyfikowanego zazwyczaj w VHDL-u. Na etapie implementacji potrzebne są systemy ATPG dostosowane do poziomu bramkowego układu. Powstaje pytanie, jaka jest praktyczna przydatność oraz perspektywy rozwoju tych systemów? W artykule podjęto próbę odpowiedzi na to pytanie.
New design technologies make possible to create digital systems as complex as never before. By that reason fast and efficient ATPG systems are requested. It's necessary to use ATPG utilities adjusted for virtual prototype (usualy described by VHDL) at early stages of designing process. Implementation demands ATPG systems suitable for gate level of chip. There is a question if that systems are really useful. In this paper we are trying to answer that question.