Notice: Undefined index: linkPowrot in C:\wwwroot\wwwroot\publikacje\publikacje.php on line 1275
Publikacje
Pomoc (F2)
[28462] Artykuł:

Palladium nanocrystals and their properties

Czasopismo: Materials Science-Poland   Tom: 26, Zeszyt: 1, Strony: 119-125
ISSN:  0137-1339
Wydawca:  OFICYNA WYDAWNICZA POLITECHNIKI WROCLAWSKIEJ, WYBRZEZE WYSPIANSKIEGO 27, 50-370 WROCLAW, POLAND
Opublikowano: 2008
 
  Autorzy / Redaktorzy / Twórcy
Imię i nazwisko Wydział Katedra Procent
udziału
Liczba
punktów
Elżbieta Czerwosz17.00  
P. Dłużewski17.00  
Justyna Kęczkowska orcid logoWEAiIKatedra Telekomunikacji, Fotoniki i Nanomateriałów *****177.50  
M. Kozłowski17.00  
Małgorzata Suchańska orcid logoWEAiIKatedra Telekomunikacji, Fotoniki i Nanomateriałów *****177.50  
H. Wronka17.00  

Grupa MNiSW:  Publikacja w czasopismach wymienionych w wykazie ministra MNiSzW (część A)
Punkty MNiSW: 15
Klasyfikacja Web of Science: Article


Web of Science Logo Web of Science     Web of Science LogoYADDA/CEON    
Keywords:

palladium nanocrystals  TEM  AFM  UV-VIS absorption  electric properties 



Abstract:

Films composed of Pd nanocrystals embedded in fullerene C60 matrix have been studied by TEM, AFM, UV-VIS absorption methods. Data on the structure of Pd nanocrystals was obtained from electron diffraction of selected areas and the size distribution for Pd nanocrystals was found from dark field TEM images. UV-VIS absorption spectra showed the shift of C60 characteristic bands connected with the ligand field effect. Electric characteristics were recorded for the initial dry film and film wetted by various liquid agents (benzene, ethanol, toluene).



B   I   B   L   I   O   G   R   A   F   I   A
[1] ALIVISATOS A.P., Science, 271 (1996), 933.
[2] HAHN K.H., BEDULA K., Scripta Metall., 23 (1989), 7.
[3] HAUBOLD T., BOHN R., BIRRINGER R., GLEITER H., Mater. Sci. Eng. A, 153 (1992), 679.
[4] MAIER R.R.J., BARTON J.S., JONES J.D.C., MCCULLOCA S., JONES B.J.S., BURNELL G., Meas. Sci. Technol., 17 (2006), 1118.
[5] GRYCUK T., CZERWOSZ E., Fullerene Sci.Techn., 5/6 (1997), 1275.