Notice: Undefined index: linkPowrot in C:\wwwroot\wwwroot\publikacje\publikacje.php on line 1275
Strona główna > Publikacje
Publikacje
Pomoc (F2)
[42634] Artykuł:

Precyzja stykowych pomiarów struktury geometrycznej powierzchni w warunkach powtarzalności

(Stylus profiler precision for measuring surface texture in repeatability conditions)
Czasopismo: Mechanik   Tom: 86, Zeszyt: 7, Strony: 530-534
ISSN:  0025-6552
Opublikowano: 2013
 
  Autorzy / Redaktorzy / Twórcy
Imię i nazwisko Wydział Katedra Procent
udziału		 Liczba
punktów
Włodzimierz Makieła orcid logoWMiBMKatedra Technologii Mechanicznej i Metrologii*503.00  
Jacek Świderski orcid logoWMiBMKatedra Technologii Mechanicznej i Metrologii*503.00  

Grupa MNiSW:  Publikacja w recenzowanym czasopiśmie wymienionym w wykazie ministra MNiSzW (część B)
Punkty MNiSW: 6

Web of Science LogoYADDA/CEON    
Słowa kluczowe:

pomiary struktury geometrycznej powierzchni  profilometr stykowy  powtarzalność pomiarów 

Keywords:

surface texture measurement  stylus profilers  measurement precision  repeatability conditions of measurements 


Streszczenie:

Przedstawiono wyniki badań precyzji pomiarów struktury geometrycznej powierzchni wykonanych profilometrem stykowym z ostrzem odwzorowującym w warunkach powtarzalności. Badania poprzedzono pomiarami profilu szczątkowego w celu wyznaczenia czynników oddziałujących na proces pomiaru. Badania precyzji pomiarów w warunkach powtarzalności przeprowadzono dla powierzchni wzorca typu C oraz powierzchni po szlifowaniu i frezowaniu czołowym. Aby obliczyć parametry statystyczne, dokonano pięćdziesięciokrotnego pomiaru każdej powierzchni.



Abstract:

The paper presents analysis results for measuring precision of surface texture with stylus profilers in repeatability conditions. The analysis was preceeded with measuring partial profiles in order to establish factors that influence measurement process. Analysis of measurement precision in repeatability conditions has been conducted for a type C calibration standard and a surface, which was polished and ground. In order to compute statistical parameters the surface has been measured fifty times.


B   I   B   L   I   O   G   R   A   F   I   A
1. PN-EN ISO 25178-6:2011 Specyfikacje geometrii wyrobów. Struktura geometryczna powierzchni: Przestrzenna - Część 6: Klasyfikacja metod pomiaru struktury geometrycznej powierzchni
2. PN-EN-ISO 3274: 2011 Specyfikacje geometrii wyrobów (GPS). Struktura geometryczna powierzchni: Metoda profilowa. Charakterystyki nominalne przyrządów stykowych (z ostrzem odwzorowującym).
3. Adamczak S. "Pomiary geometryczne powierzchni". Warszawa: WNT 2008.
4. Wieczorowski M. "Wykorzystanie analizy topograficznej w pomiarach nierówności powierzchni". Rozprawy. Nr 429. Poznań: Wyd. Politechniki Poznańskiej 2009.
5. Pawlus P. "Topografia powierzchni pomiar, analiza, oddziaływanie". Rzeszów: Wyd. Politechniki Rzeszowskiej 2005.
6. Measurement Good Practice Guide No. 37. The Measurement of Surface Texture using Stylus Instruments National Physical Laboratory 2001.
7. International vocabulary of metrology - Basic and general concepts and associated terms (VIM) 3rd edition JCGM 200:2012 (Joint Committee for Guides in Metrology).
8. Oczoś K., Liubimov V. "Struktura geometryczna powierzchni. Podstawy klasyfikacji z atlasem charakterystycznych powierzchni kształtowych". Rzeszów: OWPP 2003.

POWRÓT
Strona główna > Publikacje