[43074] Artykuł:
Dokładność stykowych pomiarów struktury geometrycznej powierzchni w kontekście orzekania zgodności ze specyfikacją
Czasopismo: Sympozjum Klubu Polskiego Forum ISO 9000 "Metrologia w Systemach Zarządzania -7" Strony: 205-212ISBN: 978-83-64282-01-0
Opublikowano: 2013
Autorzy / Redaktorzy / Twórcy
| Imię i nazwisko | Wydział | Katedra | Procent udziału |
Liczba punktów |
Włodzimierz Makieła  | WMiBM | Katedra Technologii Mechanicznej i Metrologii* | 50 | .00 |
| Jacek Świderski | WMiBM | Katedra Technologii Mechanicznej i Metrologii* | 50 | .00 |
Grupa MNiSW: Pozostałe publikacje (niepunktowane)
Punkty MNiSW: 0