Notice: Undefined index: linkPowrot in C:\wwwroot\wwwroot\publikacje\publikacje.php on line 1275
Strona główna > Publikacje
Publikacje
Pomoc (F2)
[43872] Artykuł:

Optical properties of C-Pd films prepared on silica substrate studied by UV-VIS-NIR spectroscopy

Czasopismo: Proc. SPIE, The XXXIV-th IEEE-SPIE Joint Symposium Wilga 2014   Tom: 9290, Strony: 1-7
ISSN:  0277-786X
ISBN:  978-1-62841-369-4
Wydawca:  SPIE-INT SOC OPTICAL ENGINEERING, 1000 20TH ST, PO BOX 10, BELLINGHAM, WA 98227-0010 USA
Opublikowano: 2014
Seria wydawnicza:  Proceedings of SPIE
 
  Autorzy / Redaktorzy / Twórcy
Imię i nazwisko Wydział Katedra Procent
udziału		 Liczba
punktów
Radosław Belka orcid logoWEAiIKatedra Systemów Informatycznych *255.00  
Mirosław Płaza orcid logoWEAiIKatedra Systemów Informatycznych *255.00  
Małgorzata Suchańska orcid logoWEAiIKatedra Systemów Informatycznych *255.00  
M. Ferrari25.00  

Grupa MNiSW:  Materiały z konferencji międzynarodowej (zarejestrowane w Web of Science)
Punkty MNiSW: 15
Klasyfikacja Web of Science: Proceedings Paper

DOI LogoDOI     Web of Science Logo Web of Science    
Keywords:

C-Pd film  fullerene  UV-VIS-NIR spectroscopy  Thin Film Interference  Tauc gap 


Abstract:

In this paper some optical properties of carbonaceous-palladium (C-Pd) thin films investigated using UV-VIS-NIR spectroscopy method are presented. Transmittance and reflectance spectra were measured in 200-3200 nm region. The shape of the spectra were depended on allotropic form of carbon (fullerene) matrix. The refractive coefficients and film thickness of studied materials has been determined based on Thin Film Interference and "envelope" methods. The optical band gap values were also estimated from absorption spectra using Tauc plot extrapolation. The results are in good agreement with experimental data obtained by spectroscopic ellipsometry.


POWRÓT
Strona główna > Publikacje