Notice: Undefined index: linkPowrot in C:\wwwroot\wwwroot\publikacje\publikacje.php on line 1275
Strona główna > Publikacje
Publikacje
Pomoc (F2)
[44980] Artykuł:

About the use of an Ellipse fitting algorithm in sampling measurements of complex ratio of AC voltages

(O zastosowaniu algorytmu dopasowania do elipsy w pomiarach zespolonego stosunku napięć metodą próbkowania)
Czasopismo: 2016 Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2016)   Strony: 1-2
ISSN:  2160-0171
ISBN:  978-1-4673-9134-4
Wydawca:  IEEE, 345 E 47TH ST, NEW YORK, NY 10017 USA
Opublikowano: Lipiec 2016
 
  Autorzy / Redaktorzy / Twórcy
Imię i nazwisko Wydział Katedra Procent
udziału		 Liczba
punktów
Jerzy Augustyn orcid logoWEAiIKatedra Informatyki, Elektroniki i Elektrotechniki *5015.00  
Marian Kampik50.00  

Grupa MNiSW:  Materiały z konferencji międzynarodowej (zarejestrowane w Web of Science)
Punkty MNiSW: 15
Klasyfikacja Web of Science: Proceedings Paper

Pełny tekstPełny tekst     DOI LogoDOI     Web of Science Logo Web of Science    
Keywords:

precise measurements  Ellipse Fitting Algorithm  DFT  sampling measurements  complex voltage ratio  numerical algorithms. 


Abstract:

This paper presents a comparison of results of synchronous and asynchronous sampling measurements of complex ratios of sinusoidal voltages, obtained with the use of an Ellipse Fitting Algorithm and with the use of Discrete Fourier Transform (DFT)


B   I   B   L   I   O   G   R   A   F   I   A
[1] F. Overney and B. Jeanneret, “RLC bridge based on an automated synchronous sampling system,” IEEE Trans. Instrum. Meas., vol. 60, no. 7, pp. 2393–2398, July 2011.
[2] F. Overney, A. Mortara, “Synchronization of sampling-based measuring systems,” IEEE Trans. Instrum. Meas., vol. 63, no. 1, pp. 89 – 95, January 2014.
[3] G. Ramm, H. Moser, and A. Braun, “A new scheme for generating and measuring active, reactive, and apparent power at power frequencies with uncertainties of 2.5×10-6”, IEEE Trans. Instrum. Meas., vol. 48, pp. 422–426, 1999.
[4] P. M. Ramos, F. M. Janeiro, M. Tlemçani, A. Cruz Serra, “Recent developments on impedance measurements with DSP-based ellipse- fitting algorithms,” IEEE Trans. Instrum. Meas., vol. 58, no. 5, pp. 1680 – 1689, May 2009.
[5] R. Halíř, J. Flusser, “Numerically stable direct least squares fitting of ellipses,” Proc. WSCG, Feb. 1998, pp. 125–132.

POWRÓT
Strona główna > Publikacje